- Код статьи
- S0044453725060143-1
- DOI
- 10.31857/S0044453725060143
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том 99 / Номер выпуска 6
- Страницы
- 942-951
- Аннотация
- Структура интегральных кривых, полученных при обработке хроноионограмм (ХПГ) алюминиевого анода, поляризуемого слабым (на уровне одного-нескольких мкА/см) током в хлоридсодержащей среде, носит самоподобный характер. Это универсальное свойство позволяет найти их подгоночную функцию и вычислить редуцированную (сжатую зависимость; исходное число точек — 1000, описываемое числом мод АЧХ-14). Начальная кривая инвариантна по отношению к своему преобразованному аналогу после пятикратного сжатия. Для двух различных типов данных, полученных при разомкнутой цепи и при поляризации металла микротоком, можно получить общую платформу фитинга, связанную с его параметрами. Существуют различные методы детрендирования: т. е. получение тренда из исходного бестреидового шума. Наиболее простой способ получения тренда, не дающего вычислительных ошибок, получается из формулы численного интегрирования методом трапеций. Именно этот тренд, получаемый из исходной бестреидовой последовательности без дополнительных ошибок обработки данных, имеет смысл определить как четкий тренд. Параметры аппроксимации можно использовать для сравнения различных случайных процессов, в том числе, обусловленных протеканием реакций на поверхности металла с изменением ее микрорельефа в течение окислительно-восстановительных процессов.
- Ключевые слова
- алюминий хлоридсодержащий раствор анодная поляризация ток хроноионограмма флуктуации принцип самоподобия
- Дата публикации
- 07.12.2024
- Год выхода
- 2024
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 12
Библиография
- 1. Nigancioglu K., Holtan H. // Electrochim. Acta. 1979. № 24. P. 1229
- 2. Hurlen T., Lian H., Odegard O.S., Valant T. // Electrochim. Acta. 1984. № 29. P. 579
- 3. Lenderink H.J.W., van der Linden M., de Wit J.H.W. // Electrochim. Acta. 1993. № 38. P. 1989
- 4. Kolies A., Besing A.S., Baradlai P., et al. // J. Electrochem. Soc. 2001. № 148. P. B251
- 5. Verpoort F., Haemers T., Roose P., Maes J.P. // Appl. Spectr. 1999. № 53. P. 1528
- 6. Al Mayouf A.M. // Corr. Prev. Control. 1996. 43. P. 68
- 7. Radošević J., Kiškić M., Despić A.R. // J. Appl. Electrochem. 1992. № 22. P. 649
- 8. Garrigues L., Pebere N., Dabosi F. // Electrochim. Acta. 1996. № 41. P. 1209
- 9. Burri G., Lucati W., Haas O. // J. Electrochem. Soc. 1989. № 136. P. 267
- 10. Equey J.-F., Müller S., Desilvestro J., Haas O. // Ibid. Soc. 1992. № 139. P. 1499
- 11. Breslin C.B., Rudd A.L. // Corros. Sci. 2000. № 42. P. 1023
- 12. Aballe A., Bethencourt M., Botana F.J., Marcos M. // Electrochim. Acta. 1999. № 44. P. 4805
- 13. Pagitsas M., Sazou D. // J. Electroanal. Chem. 1999. № 471. P. 132
- 14. Uruchurtu J.C., Dawson J.L. // Corrosion. 1987. № 43. P. 19
- 15. Isaac J.W., K.R. Hebert J. // Electrochem. Soc. 1999. № 146. P. 502
- 16. Mansfeld F., Xiao H., Han L.T., Lee C.C. // Prog. Org. Coat. 1997. № 30. P. 89
- 17. Mansfeld F., Lee C.C. // J. Electrochem. Soc. 1997. № 144. P. 2068
- 18. Greisiger H., Schauer T. // Prog. Org. Coat. 2000. № 39. P. 31
- 19. Mills D.J., Mabbutt S. // Ibid. 2000. № 39. P. 41
- 20. Nagulo A., Mansfeld F. // Corros. Sci. 2001. № 43. P. 2001
- 21. Tan Y.J., Bailey S., Kinsella B. // Ibid. 2002. № 44. P. 1277
- 22. Aballe A., Bethencourt M., Botana F.J., et al. // Electrochim. Acta. 2002. № 47. P. 1415
- 23. Mansfeld F., Sun Z., Hsu C.H. // Ibid. 2001. № 46. P. 3651
- 24. Smulko J., Darowicki K., Zielinski A. // Ibid. 2002. № 47. P. 1297
- 25. Biervagen G.P. // J. Electrochem. Soc. 1994. № 141. P. L155
- 26. Bertocci U., Gabrielli C., Huet F., Keddam M. // Ibid. 1997. № 144. P. 31
- 27. Mansfeld F., Xiao H. // Ibid. 1994. № 141. P. 1403
- 28. Xiao H., Mansfeld F. // Ibid. 1994. № 141. P. 2332
- 29. Mansfeld F., Sun Z., Hsu C.H., Nagulo A. // Corros. Sci. 2001. № 43. P. 341
- 30. Cheng Y.F., Luo J.L., Wilmont M. // Electrochim. Acta. 2000. № 45. P. 1763
- 31. Bautista A., Bertocci U., Huet F. // J. Electrochem. Soc. 2001. № 148. P. B412
- 32. Lowe A.M., Eren H., Bailey S.I. // Corros. Sci. 2003. № 45. P. 941
- 33. Cotits R.A., Al-Awadhi M.A.A., Al-Mazeedi H., Turgoose S. // Electrochim. Acta. 2001. № 46. P. 3665
- 34. Smulko J., Darowicki K. // J. Electroanal. Chem. 2003. № 545. P. 59
- 35. Aballe A., Huet F. // J. Electrochem. Soc. 2002. № 149. P. B89
- 36. Cotits R.A. Interpretation of electrochemical noise data // Corrosion. 2001. 57. P. 265
- 37. Mansfeld F. // Proceedings of the 18th Int. Conference on Noise and Fluctuations-ICNF; 2005 Aug 24; Los Angeles, CA (USA): American Institute of Physics; 2005. P. 623
- 38. Pride S.T, Scully J.R, Hudson J.L. // J. Electrochem Soc. 1994. № 141. P. 3028
- 39. Lou W, Ogura K. // Electrochim. Acta. 1995. № 40. P. 667
- 40. Sazou D., Diamantopoulou A., Pagitsas M. // J. Electroanal Chem. 2000. № 489. P. 1
- 41. Bassett M.R, Hudson J.L. // J. Phys. Chem. 1989. № 93. P. 2731
- 42. Dewald H.D., Parmananda P., Rollins R.W. // J. Electrochem Soc. 1993. № 140. P. 1969
- 43. Press W.H., Flannery B.P., Teukolsky S.A. et al. // Cambridge (UK). V. 1. Cambridge University Press, 1992. 963 p.
- 44. Schauer T., Greisiger H., Dulog L. // Electrochim Acta. 1998. № 43. P. 2423
- 45. Burg J.P. Modern Spectrum Analysis. / Ed by D.G. Childers. New York (NY): IEEE Press, 1978. 334 p.
- 46. Pujar M.G., Anita T., Shaikh H., et al. // Int. J. Electrochem. Sci. 2007. № 2. P. 301
- 47. Bertocci U., Frydman J., Gabrielli C., et al. // J. Electrochem. Soc. 1998. № 145. P. 2780
- 48. Van den Bos A. // IEEE Trans. Inform. Theory. 1997. № 17. P. 493
- 49. Edward J.A., Fitelson M.M. // IEEE Trans. Inform. Theory. 1973. № 19. P. 232
- 50. Nigmatullin Raoul R., Yang Quan Chen // Mathematics. 2023. № 11. P. 278
- 51. Nigmatullin R.R., Lino P., Maione G. // New Digital Signal Processing Methods Applications to Measurement and Diagnostics. ISBN978-3-030-45359-6 (eBook). https://doi.org/10.1007/978-3-030-45359-6. Springer, 2020
